Zoekresultaten - Perez, I.V

  • Toon 1 - 1 resultaten van 1
Verfijn jouw resultaten
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma door Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Gepubliceerd in 2020
    Volledige tekst
    Tijdschrift
    Toevoegen aan favorieten
    Bewaard in:

Zoekinstrumenten: