Sökresultat - Perez, I.V

  • Visas 1 - 1 av 1 resultat
Förfina resultatet
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma av Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Publicerad 2020
    Hämta fulltext
    Tidskrift
    Lägg till i favoriter
    Sparad:

Sökverktyg: