Kết quả tìm kiếm - Perez, I.V

  • Đang hiển thị 1 - 1 kết quả của 1
Tinh chỉnh kết quả
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma Bằng Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Được phát hành 2020
    lấy văn bản
    Tạp chí
    Lưu vào danh sách
    Đã lưu trong:

Công cụ tìm kiếm: