نتائج البحث - Susi, E

  • يعرض 1 - 2 نتائج من 2
تنقيح النتائج
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma حسب Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    منشور في 2020
    احصل على النص الكامل
    دورية
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon حسب Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    منشور في 2023
    احصل على النص الكامل
    دورية
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:

أدوات البحث: