অনুসন্ধান ফলাফলগুলি - Susi, E

  • প্রদর্শন 1 - 2 ফলাফল এর 2
ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma অনুযায়ী Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    প্রকাশিত 2020
    সম্পূর্ণ পাঠ পাওয়ার জন্য
    পত্রিকা
    তালিকাভুক্ত করুন
    সংরক্ষণ করুন:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon অনুযায়ী Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    প্রকাশিত 2023
    সম্পূর্ণ পাঠ পাওয়ার জন্য
    পত্রিকা
    তালিকাভুক্ত করুন
    সংরক্ষণ করুন:

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: