Výsledky vyhledávání - Susi, E

  • Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2
Upřesnit hledání
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma Autor Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Vydáno 2020
    Získat plný text
    Časopis
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon Autor Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    Vydáno 2023
    Získat plný text
    Časopis
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:

Vyhledávací nástroje: