Hakutulokset - Susi, E

  • Näytetään 1 - 2 yhteensä 2 tuloksesta
Tarkenna hakua
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma Tekijä Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Julkaistu 2020
    Hae kokoteksti
    Aikakauslehti
    Lisää suosikkeihin
    Tallennettuna:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon Tekijä Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    Julkaistu 2023
    Hae kokoteksti
    Aikakauslehti
    Lisää suosikkeihin
    Tallennettuna:

Työkalut: