תוצאות חיפוש - Susi, E

  • Showing 1 - 2 results of 2
Refine Results
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma מאת Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    יצא לאור 2020
    קבל טקסט מלא
    כתב-עת
    הוספה למועדפים
    שמור ב:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon מאת Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    יצא לאור 2023
    קבל טקסט מלא
    כתב-עת
    הוספה למועדפים
    שמור ב:

כלי חיפוש: