Хайлтын үр дүнгүүд - Susi, E

  • 2-н 1 - 2 үр дүнгүүдийг харуулж байна
Үр дүнг сайжруулах
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma -н Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Хэвлэсэн 2020
    Бүрэн текст авах
    Сэтгүүл
    Жагсаалт руу хадгалах
    -д хадгалсан:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon -н Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    Хэвлэсэн 2023
    Бүрэн текст авах
    Сэтгүүл
    Жагсаалт руу хадгалах
    -д хадгалсан:

Хайх хэрэгслүүд: