Rezultaty - Susi, E

  • Rezultaty 1 - 2 Rezultaty od 2
Redukuj rezultaty
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma od Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Wydane 2020
    Dokumenty pełnotekstowe
    Czasopismo
    Dodaj do listy ulubionych książek
    Zapisane w:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon od Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    Wydane 2023
    Dokumenty pełnotekstowe
    Czasopismo
    Dodaj do listy ulubionych książek
    Zapisane w:

Narzędzie wyszukiwania: