Результаты поиска - Susi, E

  • Отображение 1 - 2 результаты of 2
Отмена результатов
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma по Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Опубликовано 2020
    Полный текст
    Журнал
    Добавить в Избранное
    Сохранить в:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon по Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    Опубликовано 2023
    Полный текст
    Журнал
    Добавить в Избранное
    Сохранить в:

Инструменты поиска: