Arama Sonuçları - Susi, E

  • Gösterilen 1 - 2 sonuçlar arası kayıtlar. 2
Sonuçları Daraltın
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma Yazar: Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Baskı/Yayın Bilgisi 2020
    Tam Metin Erişim
    Dergi
    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon Yazar: Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    Baskı/Yayın Bilgisi 2023
    Tam Metin Erişim
    Dergi
    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:

Arama Araçları: