Результати пошуку - Susi, E

  • Показ 1 - 2 результатів із 2
Уточнити результати
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma за авторством Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Опубліковано 2020
    Отримати повний текст
    Журнал
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon

    The effects of oxygen precipitates on the electrical properties of silver impurities in p-type silicon за авторством Adegboyega, G.A, Passari, L, Butturri, M.A, Susi, E

    Опубліковано 2023
    Отримати повний текст
    Журнал
    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: