Proton-induced X-ray emission (PIXE) analysis of trace elements of total atmospheric deposit (TAD) around a smelting industry:

An International Journal Of Taylor & Francis Group,P.16.

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Chigaekwu Godwin, EZEH, Paul Jerimiah, UGWO, Mayowa Festus, ADEBIYI, Emmanuel Olawale, ABIYE, Azuka Chinwe, ONWUDIEGWU, Ikechi Eusebius, OBIAJUNWA
Μορφή: Επιστημονικό περιοδικό
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Taylor & Francis Group 2023
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ir.oauife.edu.ng/123456789/5335
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!