Proton-induced X-ray emission (PIXE) analysis of trace elements of total atmospheric deposit (TAD) around a smelting industry:

An International Journal Of Taylor & Francis Group,P.16.

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Chigaekwu Godwin, EZEH, Paul Jerimiah, UGWO, Mayowa Festus, ADEBIYI, Emmanuel Olawale, ABIYE, Azuka Chinwe, ONWUDIEGWU, Ikechi Eusebius, OBIAJUNWA
Format: Czasopismo
Język:angielski
Wydane: Taylor & Francis Group 2023
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ir.oauife.edu.ng/123456789/5335
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!