Výsledky vyhledávání - "Arrhenius plot activation energies,"

  • Zobrazuji výsledky 1 - 1 z 1
Upřesnit hledání
  1. 1
    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma

    Deep level transient spectroscopy study of the damage induced in n-type silicon by a gate oxide etching in a CHF3/Ar plasma Autor Adegboyega, G., Perez, I.V, Poggi, Antonella, Susi, E

    Vydáno 2020
    Témata:
    Získat plný text
    Časopis
    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:

Vyhledávací nástroje: