Proton-induced X-ray emission (PIXE) analysis of trace elements of total atmospheric deposit (TAD) around a smelting industry:

An International Journal Of Taylor & Francis Group,P.16.

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Chigaekwu Godwin, EZEH, Paul Jerimiah, UGWO, Mayowa Festus, ADEBIYI, Emmanuel Olawale, ABIYE, Azuka Chinwe, ONWUDIEGWU, Ikechi Eusebius, OBIAJUNWA
פורמט:	כתב-עת
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Taylor & Francis Group 2023
נושאים:	air pollution; PIXE; smelting industry; TAD; trace element
גישה מקוונת:	https://ir.oauife.edu.ng/123456789/5335
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!

פריטים דומים